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应用爆炸与冲击测试技术
¥138.6(7折)定价:¥198.0本书主要内容涉及爆炸与冲击测试技术的电测技术、光电测试技术和光学高速摄影测试技术三个方面，包括爆炸与冲击测试对象与测试系统、电探极测试技术、电磁粒子速度测试技术、锰铜压阻测试技术、压电压力测试技术、热电偶温度测试技术、现代数字存储测试技术、激光干涉测速技术、光电及光纤传感测试技术、高速摄影测试技术、高速录像测试技术、脉冲X光高速摄影技术和综合测试技术应用等。其中大部分内容是根据作者30年来从事爆炸与冲击实验测试技术开发研究的经验和成果
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高等断裂力学
¥156.4(7.9折)定价:¥198.0全书共分为十二章。第一章，介绍了断裂力学产生的历史背景和发展现状。第二章，简单阐述断裂力学的基本概念。第三章，介绍了数学弹性理论的基础知识。第四、五、六章，则对断裂力学中用到的Williams特征展开理论、柯西型积分和Riemann-Hilbert边值问题、积分变换方法等高等断裂理论知识进行介绍。第七至十一章，分章对界面断裂问题、复合材料断裂问题、复杂缺陷问题、压电材料断裂问题、材料构型力学基本理论等专题问题进行介绍。第十二章，讲解了
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布尔函数与e导数及其在密码学中的应用
¥108.9(5.5折)定价:¥198.0本书分为两篇十一章, 主要内容包括: 布尔函数、布尔函数的导数和e-导数、布尔积分和布尔微分方程、e-导数微分方程在逻辑电路检测中的应用、向量布尔函数、偏导数、偏E-导数、布尔函数的Walsh谱与布尔函数的导数、e-导数等...
