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原因与理由的迷宫·因由哲学
¥58.5(7.5折)定价:¥78.0本书的主题是不确定性的根据,即通过原因和理由这两个概念来分析根据。当被问及根据的时候,我们通常回答因由乃如此这般。这种如此这般的回答就是原因或理由。在事物的本性上,原因和理由是不确定的。聚焦于这一迷宫,作者以现代哲学所探讨的主题为素材推进讨论,在聚焦于不确定性的同时,过去和未来的时态构成讨论的基轴。全书分为四章。在序章中,指出了原因与理由的迷宫这一问题设定的意义乃是不确定性的认识论。前半部分(第一章和第二章)讨论构成不确定性之内容的概
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图解入门半导体系列(共四册:器件缺陷+元器件+设备基础与构造+制造工艺)
¥316.8(8折)定价:¥396.0本书共分为4章,内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏,用以介绍每个领域的某些方面。在第2~4章的末尾各列入了3道例题,这些例题出自日本科学技术联盟主办的“初级可靠性技术者”资格认定考试,题型为5选1,希望大家可以利用这些例题来测试一下自身的水平。本书的读者包括:半导体器件工艺及器件的相关技术人员,可