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纳米级系统芯片单粒子效应研究
¥70.6(7.2折)定价:¥98.0本书主要介绍28nm系统芯片（SoC）的单粒子效应，内容包括SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的a粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出Xilinx Zyng-7000SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律;计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率;揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征定量分析SC
