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双极器件辐射效应及加固技术 版权信息
- ISBN：9787560344898
- 条形码：9787560344898 ; 978-7-5603-4489-8
- 装帧：一般胶版纸
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>
双极器件辐射效应及加固技术 内容简介
本书从我国宇航用电子元器件实际需要出发, 总结了作者多年的研究成果, 论述了双极工艺器件辐射损伤效应的基本特征和微观机制, 提出了双极工艺器件抗辐射加固原理与技术研究的基本思路, 涉及半导体物理与器件基础、空间带电粒子辐射环境表征、双极器件电离辐射损伤效应、双极器件位移损伤效应、双极器件电离/位移协同效应、双极器件抗辐射加固相关问题及双极器件辐射损伤效应评价方法等内容。
双极器件辐射效应及加固技术 目录
第1章 半导体物理与器件基础
1.1概述
1.2平衡半导体
1.3载流子输运现象
1.4非平衡载流子
1.5双极晶体管基本原理
1.6双极晶体管类型
1.7双极晶体管电性能及缺陷分析测试方法
本章参考文献
第2章 空间带电粒子辐射环境表征
2.1概述
2.2太阳活动对空间带电粒子环境的影响
2.3地球辐射带粒子环境
2.4银河宇宙线粒子环境
2.5太阳宇宙线粒子环境
2.6近地轨道带电粒子能谱计算
2.7带电粒子辐射损伤能力判据
本章参考文献
第3章 双极器件辐射损伤效应
3.1电离辐射效应
3.2位移辐射效应
3.3双极器件位移缺陷表征及演化
3.4电离/位移协同效应
本章参考文献
第4章 工艺和结构对双极器件电离辐射效应影响
4.1不同工艺双极器件电离辐射效应
4.2不同结构双极器件电离辐射效应
本章参考文献
第5章 不同结构类型双极晶体管位移辐射效应研究
5.1不同结构双极晶体管电性能演化规律
5.2双极晶体管位移缺陷演化规律
5.3双极晶体管位移等效性研究
本章参考文献
展开全部
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